BASF公司Exactus紅外測溫儀適用范圍廣泛.與其他典型的測量技術(shù)相比,超靈敏電子技術(shù)、精密光學(xué)技術(shù)以及利用短波長(cháng)測量低溫的能力使得過(guò)程控制更加嚴格、精度更高、整體性能更好。
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Photrix 紅外測溫儀,具有優(yōu)異的信噪比,測溫下限可低至75℃,上限可高達2600℃的數字式高溫計。非常適用于閉環(huán)控溫。
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Photrix 外延片測溫儀,具有優(yōu)異的信噪比,測溫下限可低至75℃,上限可高達2600℃的數字式高溫計。非常適用于閉環(huán)控溫。
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UV400 GaN基外延片測溫儀用于GaN基外延的晶圓表面溫度和反射率真實(shí)測量,溫度范圍650…1300℃
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Sekidenko OR4000T 紅外測溫儀可實(shí)現兩通道多波長(cháng)測溫。其光學(xué)系統可依據具體應用選擇光纖鏡頭或者藍寶石光管。相較于Sekidenko OR4000T增加了發(fā)射率實(shí)時(shí)測量功能。
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Sekidenko OR4000E 外延片測溫儀可實(shí)現兩通道多波長(cháng)測溫。其光學(xué)系統可依據具體應用選擇光纖鏡頭或者藍寶石光管。相較于Sekidenko OR4000T增加了發(fā)射率實(shí)時(shí)測量功能。
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Sekidenko OR400T 外延片測溫儀可根據材料類(lèi)型和所需溫度范圍配置波長(cháng)??筛鶕唧w應用選擇光纖鏡頭或者藍寶石光管光學(xué)系統。
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Sekidenko OR400M 外延片測溫儀可選波長(cháng)3.3或5.2μm,具有RS232數字輸出和模擬輸出接口,適用于薄膜太陽(yáng)能,玻璃,半導體工藝溫度的精確測量。
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